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芯片加速老化試驗機采用進口耐高溫電磁閥雙路結構，降低了使用故障率。獨立蒸汽發生室，避免蒸汽直接沖擊產品，以免造成產品局部破壞。門鎖省力結構，解決產品圓盤式手柄的鎖緊困難的缺點。試驗前排冷空氣;試驗中排冷空氣設計（試驗桶內空氣排出）提高壓力穩定性、再現性. 超長效實驗運轉時間，長時間實驗機臺運轉400小時.水位保。

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